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我室为南方科技大学提供QLED光学性能测试

来源:未知 │ 发表时间:2019-03-13 | 浏览数:载入中...

近日,我室受南方科技大学委托,为南方科技大学提供QLED光学性能测试。目前,QLED技术属于一门前沿的技术,还处于比较初始的阶段。现今在稳定性、寿命、性能等方面还存在很多的问题,因此其光电性能的测试显得尤为重要。我室根据市场需求,对光电性能的测试也颇有研究,已经能够为客户提供测试服务。

本次测试的项目包括:电流效率、半寿命、打印QLED半峰宽、量子点ink的制备等。

测试方法:

1、将QLED 的正负极连接后施加2V 电压,使用PR-670光谱扫描光谱仪记录器件的光谱数据,将光谱数据导入到QLED 测试软件Keithley 2400中。

2、将QLED放置于夹具中,在软件中设置电压扫描范围从2V 20V,运行模式为continue,间隔0.5V,37个点,点击开始测试,直接得到结果。

3、在Keithley 2400软件中读取电流电压曲线,电流效率曲线,每个点的流明效率与外量子产率以数据形式保存在结果中。

寿命测试:

1、将器件直接放置于测试夹具中,以恒电流模式点亮器件,记录初始亮度值L0,一直点亮器件至亮度衰减至L0,记录衰减时间T50

2、根据计算公式:t=L0/1000)n*T50,其中n为加速因子



QLED效率曲线


欢迎咨询光电性能测试相关业务,联系方式:李工,028-84403721.






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